本篇文章给大家谈谈电容的制作过程，以及电容的制作过程图对应的知识点，希望对各位有所帮助，不要忘了收藏本站喔。
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电容的种类、电容的测量方法
我们知道只有电解电容的正极接电源正(电阻挡时的黑表笔)，负端接电源负(电阻挡时的红表笔)时，电解电容的漏电流才小(漏电阻大)。反之，则电解电容的漏电流增加(漏电阻减小)。
第一种方法：用指针式万用表测量 将万用表打在欧姆档；根据电容大小选择档位：10pF以下的电容，可选用万用表R×10k挡；10PF～0.01μF的电容，可选用万用表R×1k挡；将万用表红探针对应电容负极，用黑探针对应电容正极，通过指针变化判断电容是否正常。
电容的标注方法分为：直标法、色标法和数标法。对于体积比较大的电容，多采用直标法。如果是0.005，表示0.005uF=5nF。如果是5n，那就表示的是5nF。数标法：一般用三位数字表示容量大小，前两位表示有效数字，第三位数字是10的多少次方。
第一种方法：指针式万用表测量。将万用表设置在欧姆档；根据电容选择档位：10pF以下电容，万用表R×10k档位可选；10F~0.01μF的电容，可选万用表R×1k块；用万用表红色表笔对应电容器负极，黑色表笔对应电容器正极，通过指针的变化判断电容器是否正常。
检测10pF以下的小电容：因10pF以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。测量时，可选用万用表R×10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。检测10PF～001μF固定电容器：通过判断是否有充电现象，进而判断其好坏。
测量电容、电感和二极管的方法可以分别使用不同的仪器。以下是常用的测量方法：电容的测量：使用数字电表：将数字电表设定到电容测量档位，将电容器两端连接到测量引脚上。数字电表会显示电容的值。使用示波器：通过观察电压和电流的相位差，可以计算得到电容的值。
影响金属化薄膜电容寿命的原因有哪些?
1、您好，金属化薄膜电容器的容量大小由薄膜金属层面积的大小决定，所以容量的下降主要原因就是金属镀层受到各种外界因素影响、面积减少。一般情况下，影响金属化薄膜电容使用寿命的主要原因有三点：电压过高。用于高频。（频率高，介质损耗大，发热击穿）使用环境温度高。
2、电容在出厂时的容量一般会高于标称容量的，当电容容量小于标称容量时，这.支电容已经开始老化了，当小于10%时最好就不要用了，电容失效是有一个过程的，不是昨天还好好的，突然今天就失效了，这个过程有长有短，各个电容的品质不同，所以老化的过程也不同。
3、内部回路、端子断裂、损坏。对于电子线路电容器除以上原因外，反接、过压也可导致失效。
4、CBB61一般用于交流启动，导致它容衰最大的可能性是湿气进入到电容器内部造成电晕现象使容量衰减，镀层金属和喷涂金属氧化影响DF；当然要看具体的数据来分析。
5、忽略温度的影响，外壳封装完好的情况下几十年木有问题。
6、国金燊电容器的分析失效原因主要是：电容耐压不够导致电压击穿薄膜，导致电容器失效。使用电流超过电容所能承受的最大电流导致电容器失效。
电容的制作过程的介绍就聊到这里吧，感谢你花时间阅-本站内容，更多关于电容的制作过程图、电容的制作过程的信息别忘了在本站进行查找喔。